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薄膜測厚儀

簡要描述:薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點(diǎn),可在真空環(huán)境使用;可與大行程工件臺(tái)配合,實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測量。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-06-04
  • 訪  問  量:3148

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子
產(chǎn)品名稱:薄膜測厚儀
主要技術(shù)指標(biāo):
   測量范圍(VIS):15nm—100μm
   測量重復(fù)性(RMS):0.086nm
   測量精度(與橢偏儀對比):0.25nm
   測量層數(shù):大于3層
   使用光源:鹵素?zé)簦?
入射角度:90°
   測試材料:透明或半透明薄膜材料;
   光斑尺寸:20μm—3mm(可選)
   測量時(shí)間:100ms—4ms;
   通信接口:USB2.0
產(chǎn)品特點(diǎn):
采用光譜干涉原理進(jìn)行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點(diǎn);
可在真空環(huán)境使用;可與大行程工件臺(tái)配合,實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測量。

薄膜測厚儀測試數(shù)據(jù)

薄膜測厚儀設(shè)備組成:
測試主機(jī)、光纖、校正件、測量頭、夾持裝置、設(shè)備箱、手提電腦。
 

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